類三明治結(jié)構(gòu)C/Co/C納米顆粒膜微結(jié)構(gòu)和磁特性的研究

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關(guān)鍵詞：

納米顆粒膜磁控濺射矯頑力剩磁比原位退火

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所屬學(xué)科：

結(jié)構(gòu)表征

來源：

來源網(wǎng)絡(luò)

簡介：

在室溫下，用對靶磁控濺射法制備了系列類三明治結(jié)構(gòu)C/Co/C顆粒膜。C靶和Co靶分別采用射頻濺射和直流對靶濺射模式，并且隨后進(jìn)行了原位退火。用振動樣品磁強(qiáng)計(jì)（VSM）和掃描探針顯微鏡（SPM）系統(tǒng)研究了C/Co/C顆粒膜的微結(jié)構(gòu)和磁特性與磁性層厚度、非磁性層厚度、退火溫度的關(guān)系。X射線衍射（XRD）圖樣顯示出退火400℃的樣品具有很好的六角密堆積結(jié)構(gòu)。掃描探針顯微鏡圖樣和δM曲線說明Co納米顆粒嵌在非晶質(zhì)的C母基內(nèi)。振動樣品磁強(qiáng)計(jì)測量表明磁矩很好的排列在膜面內(nèi)，隨著磁性層Co層厚度的增加，矯頑力（Hc）先增大然后減小。在Co層厚度為20nm，C層厚度為30nm，退火溫度400℃時，矯頑力達(dá)到最大值，剩磁比（S）接近于1。

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2007-07-16 17:06:49

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