除上述兩種典型的化學(xué)鍵外，還有介于它們之間的一種化學(xué)鍵：極性共價鍵。在極性共價鍵中，其中的一個原子的價電子向另一個原子偏向多一些，因此導(dǎo)致偶極的出現(xiàn)，使結(jié)合的一對原子分別帶有微弱的正、負(fù)極性。這種化學(xué)鍵出現(xiàn)于一些金屬原子與非金屬原子的結(jié)合中。此外，還有配位鍵。
2.高分子的鏈結(jié)構(gòu)
高分子是由結(jié)構(gòu)單元（單體或其極性基團(tuán)）通過化學(xué)鍵結(jié)合而成的大分子。根據(jù)主鏈上的元素結(jié)構(gòu)，高分子分為：
均鏈高分子 — 主鏈由單一的一種原子通過共價鍵組成。
雜鏈高分子 — 主鏈由兩種或兩種以上的原子組成
組成鏈結(jié)構(gòu)的原子除C原子外，還可以是N、O、P、S、Si、B等元素。與低分子量的分子相比，高分子具有復(fù)雜的結(jié)構(gòu)和形態(tài)：同一分子鏈中的結(jié)構(gòu)單元可以是一種，也可以為幾種；
同一反應(yīng)中生成的高分子的相對分子質(zhì)量，分子結(jié)構(gòu)，分子空間構(gòu)型，枝化度和交聯(lián)度等不盡相同；同一高分子聚合物在凝聚態(tài)結(jié)構(gòu)上存在多樣性（同一高聚物在不同的條件下，可以晶態(tài)、非晶態(tài)、取向態(tài)等多種形式出現(xiàn)）。對含雜原子（碳、氫之外的原子）的高分子化合物或合成的高分子金屬化合物、高分子－金屬配合物，有時難以確定分子的化學(xué)結(jié)構(gòu)，這時對化合物中化學(xué)鍵的分析，可以提供高分子化合物化學(xué)結(jié)構(gòu)的信息。
3. 化學(xué)鍵的分析方法
3.1 X射線光電子能譜
用單色軟X光以小角度入射受測材料的表面，材料表面分子內(nèi)的電子受到激勵后能量發(fā)生躍升。如入射光子的能量足以使電子克服原子的引力，受到激勵的電子將脫離分子成為自由電子。測定由于光子激勵所產(chǎn)生的自由電子數(shù)和入射能量之間的關(guān)系，可以得到一個譜線。由于使電子從處于某種化學(xué)鍵狀態(tài)的電子的束縛中釋放出來所需要的能量是唯一的，因此X光衍射光譜上峰值對應(yīng)的化學(xué)鍵，元素原子類型均為唯一的，即處于每種化學(xué)鍵狀態(tài)和某種原子在X光衍射光譜上留有對應(yīng)的“指紋”。通過比較已知化學(xué)結(jié)構(gòu)的“指紋”可以確定未知樣品的化學(xué)鍵類型以及樣品的構(gòu)成單元。
需要指出的是小角度X光衍射光譜的信息通常僅取自表面的2-20原子層，因此該方法僅適于測定材料表面的化學(xué)構(gòu)成而不能用于分析材料內(nèi)部的化學(xué)鍵和組成元素。
除氫和氦外，X射線光電子能譜法可以用來測定所有材料表面的原子類型及化學(xué)鍵狀態(tài)，因此對于研究高分子金屬配合物，含金屬原子的超分子體系是十分有用的。
